X射線衍射儀

簡要描述：X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析?？赏ㄟ^半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

產(chǎn)品型號：XRD-7000
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-07-04
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日本島津

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詳細介紹

X射線衍射儀技術(shù)特點：

XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進行最大350mmφ樣品全表面的自動應(yīng)力成圖測定。采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴大應(yīng)用范圍。

MAXima_X XRD-7000

配備具有0.0001°較小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。

XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定大型樣品。
不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。